Optik Emisyon Spektrometresi (OES), metal ve alaşımlardaki elementlerin türünü ve miktarını belirlemek için kullanılan gelişmiş bir analiz yöntemidir. Bu yöntem, atomların uyarıldığında yaydığı ışığın analiz edilmesi prensibine dayanır.
OES analizi, her elementin kendine özgü ışık yayma özelliği olduğu temel prensibine dayanır. Bu prensip Atomik Emisyon Spektroskopisi olarak adlandırılır.
Analiz süreci şu adımlardan oluşur:
Metal numune cihaza yerleştirilir ve yüksek enerjili bir elektriksel uyarım (kıvılcım veya ark) uygulanır. Bu işlem sonucunda atomlar enerji kazanarak uyarılmış hale geçer.
Uyarılmış atomlar kararlı hale dönerken, her elemente özgü dalga boylarında ışık yayar. Bu ışık, elementlerin “spektral imzası” olarak kabul edilir.
Yayılan ışık, optik sistem (difraksiyon ızgarası veya prizma) tarafından dalga boylarına ayrıştırılır.
Ayrıştırılan ışık dedektörler tarafından ölçülür. Işık şiddeti, ilgili elementin miktarıyla doğru orantılıdır.
Sistem, ölçülen ışık şiddetlerini analiz ederek numunedeki elementlerin yüzdesel oranlarını hesaplar ve kullanıcıya raporlar.
Optik Emisyon Spektrometresi özellikle aşağıdaki alanlarda yaygın olarak kullanılır:
Bir çelik numunesi analiz edildiğinde sistem şu sonuçları verebilir:
