Küçük Parçalar İçin INSIGHT Evrensel Versiyonu
INSIGHT kaplama analizörü, mikro odaklı bir X-ışını tüpü kullanarak, X-ışını kaynağından gelen ışınların çoğunu toplayıp bir mikro ışın noktasına odaklar. Bu mikro nokta, numune üzerinde ışınlanarak yüksek mekansal çözünürlük ve güçlü bir floresan sinyali elde edilmesini sağlar. Cihaz, numunenin enerji spektrumu probu ve veri işlemcisi aracılığıyla gelen XRF floresan sinyalini toplar, işler ve değerlendirerek numunenin elementel bileşim bilgisini sunar. Karmaşık uygulamalarda hızlı ölçüm ve hassas XRF analiz olanağı sağlar ve homojen olmayan veya düzensiz şekilli numuneler ile mikroskobik nesnelerin elementel XRF analizinde idealdir.
INSIGHT XRF kaplama analizörü, kompakt tasarımı, yerden tasarruf sağlayan yapısı, kolay kullanım, hızlı analiz ve hassas tespit özellikleri ile öne çıkar. “Yukarıdan aşağıya” kaplama analizi sunan cihaz, geleneksel veya karmaşık kaplama yapılarına sahip numunelerin, özellikle düzensiz veya küçük şekilli numunelerin XRF tabanlı elementel analiz ve kalınlık tespiti için yaygın olarak kullanılır.Cihaz ayrıca, mücevherler, küçük parçalar, konnektör kaplamaları, devre kartları ve daha birçok uygulamada müşterilerin güvenilir ve tekrarlanabilir XRF sonuçları elde etmesini sağlar.
Galeri
Özellikler
Mücevher, Elektrokaplama, mücevherleri korur ve estetik katar. Standartlar ülkelere göre değişir; ülkemizde "QB/T 4188-2011" geçerlidir. INSIGHT, mücevherlerin tek/çok katmanlı kaplama kalınlık ve bileşimini hızlı ve doğru analiz eder.
Banyo Ürünleri, PCB yüzey işlemlerinde sıcak hava tesviyesi, OSP, ENIG, daldırma gümüş, daldırma kalay ve diğer yöntemler yaygın kullanılır. INSIGHT, farklı PCB kaplama kalınlık ve kompozisyonlarını hızlı, verimli, tahribatsız ve doğru analiz eder.
Teknik Parametreler
| Özellikleri | Yukarıdan aşağıya ölçüm yapısı, XYZ ölçüm platformu, MUTI-FP çok katmanlı algoritma |
| Elemanın kapsamı | Na(11)—Fm(100) |
| Katman sayısının analizi | 5 katman (4 katman + alt tabaka) her katman 10 elementi analiz edebilir, kompozisyon analizi 25 elemente kadar analiz edebilir |
| X-ışını tüpü | 50 W (50 kV, 1mA) mikro odaklı tungsten paladyum ışın tüpü (hedef malzeme isteğe bağlıdır) |
| Dedektör | Si-PIN geniş alan dedektörü |
| Kolimatör | φ0.05-φ1 isteğe bağlıdır. Çoklu standart isteğe bağlıdır. |
| Kamera | Yüksek çözünürlüklü CMOS renkli kamera, 5 megapiksel |
| Manuel örnek XY platformu | Hareket aralığı: 100 x 150 mm |
| Programlanabilir XY platformu | (İsteğe bağlı) |
| Z ekseni hareket aralığı | 150 mm |
| Örnek kutu boyutu | 564×540×150 mm (U x G x Y) |
| Genel boyutlar | 664×761×757 mm (U x G x Y) |
| ağırlık | 120kg |
| Güç kaynağı | AC 220V±5V 50Hz (Yapılandırma bölgeye göre biraz değişiklik gösterir) |
| Anma gücü | 150W |
Avantajlar
Çoklu kolimatör
Çoklu kolimatörler isteğe bağlı olarak kullanılabilir veya çoklu kolimatör kombinasyonları yazılım tarafından otomatik olarak değiştirilir, böylece farklı boyutlardaki parçalarla esnek bir şekilde başa çıkılabilir.
Tek dokunuşla ölçüm
Cihaz, kullanımı kolay, sezgisel ve akıllı bir analiz yazılımıyla donatılmıştır. Herkes eğitim almadan numuneleri test edebilir. "Testi Başlat"a tıklamanız yeterli; test sonuçlarına saniyeler içinde ulaşabilirsiniz.
Otomatik odaklama
Çeşitli şekillerdeki örnekler hızlı ve net bir şekilde odaklanabilir, video görüntüleri yakınlaştırılabilir, artı işaretli, otomatik odaklama.
Yüksek performanslı ithal dedektör
Çok elemanlı kaplamalara uygun Si-PIN dedektörleri seçiyoruz. Geleneksel gaz orantılı sayaçlarla karşılaştırıldığında, Si-PIN daha iyi çözünürlüğe, daha düşük arka plan gürültüsüne (en yüksek S/N oranına), uzun vadeli kararlılığa ve daha uzun hizmet ömrüne sahiptir.
Büyük ölçüm odası
Cihaz gövdesinin yuvalı tasarımı (C yuvası), ölçüm alanını genişletir ve numunenin yerleştirilmesini kolaylaştırır. Baskılı devre kartları gibi büyük ve düz nesnelerin yanı sıra karmaşık şekillere sahip büyük numuneleri de ölçebilir.
Tahribatsız muayene
X-Ray floresansı, iz bırakmayan, hassas malzemelerde bile ölçümü oldukça güvenli olan tahribatsız bir analitik işlemdir.