XRF Metal Analiz Cihazları / Kaplama Kalınlığı XRF Analiz Cihazları

Ürünler

TrueX COAT Kaplama Analizörü

TrueX COAT, LANScientific Co., LTD. tarafından geliştirilen, kaplama analizlerine özel olarak tasarlanmış yüksek performanslı bir XRF analiz cihazı ve spektrometre çözümüdür. Gelişmiş XRF teknolojisi ile donatılan bu analiz cihazı, kaplama kalınlığı ölçümü ve XRF element analizi süreçlerini tahribatsız, hızlı ve yüksek doğrulukla gerçekleştirmektedir. Hassas ölçüm kabiliyeti sayesinde metal ve…

Detay

ScopeX PILOT XRF Cihazı ile Kaplama Kalınlığı Analizi

Kaplama kalınlığı analizi, işleme endüstrisi ve yüzey mühendisliği kalite kontrolünde kritik bir rol oynar. Ürünlerin kalite standartlarına uygunluğunu doğrulamak ve uluslararası pazarlara uygunluk sağlamak için kaplama kalınlığı ölçümü vazgeçilmez bir araçtır. Çin’in ihraç ürünleri ve yurtdışı projeleri için de kaplama kalınlığı ile ilgili net gereklilikler bulunmaktadır. ScopeX PILOT, gelişmiş…

Detay

INSIGHT Elektronik Uygulama Kapsamları

Elektronik endüstrisinde ürün kalitesinin güvenilirliği ve istikrarını sağlamak için en temel süreç, kaplama kalınlığının kontrolüdür. Kaplama kalınlığı, ürün kalitesinin en önemli güvence faktörlerinden biridir; bu nedenle kaplama kalınlığı kalite kontrolü kritik öneme sahiptir. X-Işını Floresans (XRF) teknolojisi, kaplama kalınlığı ve bileşim ölçümünde yaygın olarak tercih edilen bir tekniktir.…

Detay

INSIGHT Demir Eşya Uygulama Tesisi

Farklı kaplama ürünlerinin kalite kontrol kapsamı, parçaya ve kaplamaya göre değişiklik gösterse de, tüm kaplamalarda kaplamanın görünümü, kalınlığı, korozyon direnci ve ana metalle bağlanma kuvveti kontrol edilmelidir. Bu ölçümler arasında, kaplama kalınlığı, kaplanmış parçaların kalitesi için en önemli garanti faktörüdür.Yüzey işleme proses kontrolünde, ürün kalite kontrolünde ve demir eşya…

Detay

Küçük Parçalar İçin INSIGHT Evrensel Versiyonu

INSIGHT kaplama analizörü, mikro odaklı bir X-ışını tüpü kullanarak, X-ışını kaynağından gelen ışınların çoğunu toplayıp bir mikro ışın noktasına odaklar. Bu mikro nokta, numune üzerinde ışınlanarak yüksek mekansal çözünürlük ve güçlü bir floresan sinyali elde edilmesini sağlar. Cihaz, numunenin enerji spektrumu probu ve veri işlemcisi aracılığıyla gelen XRF floresan sinyalini toplar, işler ve…

Detay