Kaplama kalınlığı analizi, işleme endüstrisi ve yüzey mühendisliği kalite kontrolünde önemli bir unsur haline gelmiştir. Ürünlerin kalite standartlarına uygun olup olmadığını doğrulamak için gerekli bir araçtır. Ürünleri uluslararasılaştırmak için, Çin'in ihraç ürünleri ve yurtdışı projeleri için kaplama kalınlığına ilişkin net gereklilikler vardır.
ScopeX PILOT, gelişmiş Çoklu-FP algoritma yazılımı, mikro ışık toplama teknolojisi ve yüksek hassasiyetli yakınlaştırma mesafesi ölçüm cihazı ile donatılmış, tepeden aşağı analiz tasarımını benimser. Engebeli, düzensiz ve küçük numunelerde hızlı, doğru ve tahribatsız testler yapabilir.
Kaplama alanında yüzey işleme proses kontrolü, ürün kalitesi denetimi ve tarama gibi zorlu problemlerle kolayca başa çıkabilir. ScopeX PILOT, mücevher, elektrokaplama endüstrisi, otomotiv endüstrisi, hırdavat ve banyo, havacılık, elektronik yarı iletken ve diğer alanlarda yaygın olarak kullanılmaktadır.
Çoklu filtre ve kolimatör opsiyoneldir veya yazılım tarafından otomatik olarak optimum kombinasyona geçirilebilir, bu da cihazın farklı boyutlardaki parçaları esnek bir şekilde analiz etme çok yönlülüğünü önemli ölçüde artırır.
Özel olarak odaklanmadan aşağıdan yukarıya doğru ölçüm yapın. Kaplama numunelerinin verimli ölçümünü sağlayın.
Çeşitli özel şekilli içbükey parçalar test edilebilir. Oluk derinliği ölçüm aralığı 0 ila 30 mm'ye kadar ulaşabilir.
Mikro alan ölçümünü daha rahat hale getiren, doğruluğu 25 μm'ye kadar ulaşabilen yüksek hassasiyetli manuel XY platformu ile donatılmıştır.
Cihaz, kullanımı kolay, sezgisel ve akıllı bir analiz yazılımıyla donatılmıştır. Herkes eğitim almadan numuneleri test edebilir. "Testi Başlat"a tıklamanız yeterli; test sonuçlarına saniyeler içinde ulaşabilirsiniz.
| Element aralığı | Al(13)-Fm(100) |
| Katman sayısının analizi | 5 katman (4 katman + alt tabaka) her katman 10 elementi analiz edebilir, kompozisyon analizi 25 elemente kadar analiz edebilir |
| X-ışını tüpü | 50 W (50 kV, 1mA) mikro odaklı tungsten paladyum ışın tüpü (hedef malzeme isteğe bağlıdır) |
| Dedektör | Si-Pin dedektörü, yüksek hassasiyetli SDD dedektörü (isteğe bağlı) |
| Kolimatör | Φ0.1-Φ3 isteğe bağlı |
| Kamera | Yüksek çözünürlüklü CMOS renkli kamera, 5 megapiksel |
| Manuel örnek XY platformu | Hareket aralığı: 50mm x 50mm |
| Filtre | Sabit birincil filtre, çoklu filtre (isteğe bağlı) |
| Örnek oda boyutu | 320mm × 480mm × 130mm (G×D×Y) |
| Boyut | 330mm × 580mm × 360mm (G×D×Y) |
| Ağırlık | 40 kg |
| Güç kaynağı | AC 220V±5V 50Hz (Yapılandırma bölgeye göre biraz değişiklik gösterir) |
| Anma gücü | 150W |
TrueX el tipi XRF metal analiz cihazı, üretim süreçlerinde metal analizi ve malzeme tanımlamayı yeni bir seviyeye taşıyan ileri XRF teknolojisi ile geliştirilmiştir. Hafif ve taşınabilir tasarımı, yüksek hassasiyetli XRF ölçüm kabiliyeti ve hızlı analiz süresi sayesinde sahada ve üretim hattında maksimum ve
TrueX el tipi XRF analiz cihazı, firmamız tarafından piyasaya sunulan, hızlı algılama, yüksek dayanıklılık ve kolay kullanım özellikleriyle öne çıkan
El tipi alaşım analiz cihazı, lazer kaynaklı bozulma teknolojisi ve spektral analiz yöntemleriyle entegre, gelişmiş bir spektral analiz cihazıdır. Hafif ve taşınabilir olmasının yanı sıra, kullanımı kolay, hızlı analiz hızı, numune hazırlama gerektirmemesi, düşük tahribatlılık, küçük nokta tespit alanı ve birden fazla elementin eş zamanlı çevrimiçi tespiti gibi
TrueX XRF mineral analiz cihazı, madencilik operasyonlarının tüm aşamalarında XRF teknolojisinin hızını ve güvenilirliğini sahaya taşır. Temel arama ve geliştirme çalışmalarından üretim sırasında cevher kalite kontrolüne, stok sahası yönetiminden çevresel izleme faaliyetlerine kadar
TrueX COAT, LANScientific Co., LTD. tarafından geliştirilen, kaplama sektörüne özel yüksek performanslı bir XRF cihazıdır. Gelişmiş XRF teknolojisi sayesinde
TrueX el tipi XRF toprak ağır metal analizörü, çevresel analiz ve saha yönetiminde hız, doğruluk ve kontrolü bir araya getiren ileri seviye bir XRF çözümüdür. Hafif ve taşınabilir tasarımı, tek tuşla kullanım kolaylığı ve sahaya uyumlu yapısıyla XRF a
XRF Teknolojisi ile RoHS, REACH ve Halogen-Free Uygunluk Testleri Endüstriyel üretimde çevresel uyumluluk ve ürün güvenliği büyük önem taşımaktadır.
ScopeX XRF metal analiz cihazı, geniş doğrusal aralık, hızlı analiz, iyi tekrarlanabilirlik ve yüksek hassasiyet sunan akıllı yazılım ve yüksek kaliteli donanım ile donatılmıştır. Gelişmiş
TrueX 70 kV taşınabilir XRF metal analiz cihazı nadir toprak elementlerinin hızlı, doğru ve güvenilir şekilde tespiti için geliştirilmiş ileri teknolojiye sahip bir cihazdır. Taşınabilirlik, yüksek doğruluk ve akıllı analiz özelliklerini bir araya getirerek saha çalışmalarında ve yerinde te
PeDX, kullanıcıların analiz ihtiyaçlarına yönelik geliştirilmiş taşınabilir bir X-ışını floresan (XRF) analiz cihazıdır. PeDX XRF cihazı, taşınabilirliği,
Gaz, sıvı veya saydam bir numune, numunenin parçacık boyutundan çok daha küçük dalga boyuna sahip tek renkli ışık ile ışınlandığında, ışığın büyük bir kısmı numuneden geçerken küçük bir kısmı farklı açılarda saçılır. Bu durum saçılma olgusuna neden olur. Gelen ışıkla aynı
RA200, LANScientific tarafından piyasaya sürülen taşınabilir bir Raman spektrometresidir. Uzaysal olarak eşleşmiş optik, elektronik tasarım ve bilim
TX3300 Toplam Yansımalı X-ışını Floresan Spektrometresi, XRF teknolojisi birikimiyle geliştirilmiş ve eser element analizi için özel olarak tasarlanmış taşınabilir bir
TX3000 tam yansımalı X-ışını floresan spektrometresi, yıllar süren XRF araştırmaları ve geliştirmeleri sonucunda element analizi ve eser element analizi için özel olarak tasarlanmış taşınabilir bir XRF cihazı
TX3300Cl, yüksek hassasiyetli taşınabilir bir XRF spektrometresidir. Cihaz, inorganik elementlerin çok elementli mikro/iz XRF analizini gerçekleştirmek için toplam yansım
TX3800 taşınabilir toplam yansımalı XRF spektrometresi, hassas XRF tespiti için özel olarak tasarlanmıştır. Son derece düşük arka plan gürültüsü altında yüksek hassasiyetli XRF analizleri sağlar. Sı
LIBS 3000 Çevrimiçi Lazerle Endüklenen Bozulma Spektrometresi, gerçek zamanlı malzeme bileşimi izleme ve kontrolü için özel olarak tasarlanmış bir
LIBS 5000 Çevrimiçi Lazer Kaynaklı Parçalanma Spektrometresi, sıvı bileşim tespiti için özel olarak tasarlanmış akıllı bir analiz sistemidir. Te
Elektronik endüstrisinde ürün kalitesinin güvenilirliği ve istikrarını sağlamak için en temel süreç, kaplama kalınlığının kontrolüdür. Kaplama kalınlığı, ürün kalitesinin en önemli güvence faktörlerinden biridir; bu nedenle
INSIGHT kaplama analizörü, mikro odaklı bir X-ışını tüpü kullanarak, X-ışını kaynağından gelen ışınların çoğunu toplayıp bir mikro ışın noktasına odaklar. Bu mikro nokta, numune üzerinde ışınlanarak
Farklı kaplama ürünlerinin kalite kontrol kapsamı, parçaya ve kaplamaya göre değişiklik gösterse de, tüm kaplamalarda kaplamanın görünümü, kalınlığı, korozyon direnci ve ana metalle bağlanma kuvveti kontrol edilmelidir. Bu ölçümler arasında, kaplama ka
YANG 700W, ppb seviyesinde iz elementleri tespit edebilen taşınabilir bir X-ışını floresan (XRF) spektrometresidir. Çok yüzeyli sürekli kavisli kristaller ile arka plan girişimi etkili bir şekilde azaltılarak, elementlerin karakteristik çizgileri son derece düşük gürültü altında net biçimde tanımlanır
El tipi LIBS lazer karbon metal analiz cihazı, LIBS teknolojisi ve gelişmiş spektral analiz yöntemlerini bir araya getiren yüksek hassasiyetli taşınabilir bir analiz cihazıdır. Hafif ve ergonomik tasarım