Farklı kaplama ürünlerinin kalite kontrol kapsamı, parçaya ve kaplamaya göre değişiklik gösterse de, tüm kaplamalarda kaplamanın görünümü, kalınlığı, korozyon direnci ve ana metalle bağlanma kuvveti kontrol edilmelidir. Bu ölçümler arasında, kaplama kalınlığı, kaplanmış parçaların kalitesi için en önemli garanti faktörüdür.Yüzey işleme proses kontrolünde, ürün kalite kontrolünde ve demir eşya uygulamalarında tespit ve tarama sorunlarını hedefleyen LANScientific, kullanıcılara verimli ve akıllı bir XRF analiz cihazı olan INSIGHT’ı sunar.
INSIGHT XRF kaplama analiz cihazı, yüksek hassasiyet, tahribatsız kullanım, basit operasyon, yüksek test doğruluğu, kompakt tasarım ve yerden tasarruf sağlayan özellikleri ile öne çıkar. Cihaz, sadece düzensiz veya küçük şekilli numunelerin element analizinde değil, aynı zamanda kaplamaların ve kaplama sistemlerinin XRF tabanlı kalınlık ölçümünde de kullanılabilir.Kalite kontrol, gelen malzeme muayenesi ve çeşitli ürünlerin üretim süreci kontrolünde yaygın olarak kullanılan INSIGHT XRF cihazı, müşterilerin malzeme maliyetlerini düşürmelerine ve ilgili endüstriyel standartları karşılamalarına yardımcı olur.
Çoklu kolimatör seçenekleri veya çoklu kolimatör kombinasyonları yazılım tarafından otomatik olarak değiştirilir, bu da INSIGHT'ın çok yönlülüğünü büyük ölçüde iyileştirerek farklı boyutlardaki parçalara esnek bir şekilde yanıt vermesini sağlar.
Cihaz, kullanımı kolay, sezgisel ve akıllı bir analiz yazılımıyla donatılmıştır. Herkes eğitim almadan numuneleri test edebilir. "Testi Başlat"a tıklamanız yeterli; test sonuçlarına saniyeler içinde ulaşabilirsiniz.
Çok elemanlı kaplamalara uygun Si-PIN dedektörleri seçiyoruz. Geleneksel gaz orantılı sayaçlarla karşılaştırıldığında, Si-PIN daha iyi çözünürlüğe, daha düşük arka plan gürültüsüne (en yüksek S/N oranına), uzun vadeli kararlılığa ve daha uzun hizmet ömrüne sahiptir.
Cihaz gövdesinin yuvalı tasarımı (C yuvası), ölçüm alanını genişletir ve numunenin yerleştirilmesini kolaylaştırır. Baskılı devre kartları gibi büyük ve düz nesnelerin yanı sıra karmaşık şekillere sahip büyük numuneleri de ölçebilir.
| Özellikleri | Yukarıdan aşağıya ölçüm yapısı, XYZ ölçüm platformu, MUTI-FP çok katmanlı algoritma |
| Elemanın kapsamı | Na(11)—Fm(100) |
| Katman sayısının analizi | 5 katman (4 katman + alt tabaka) her katman 10 elementi analiz edebilir, kompozisyon analizi 25 elemente kadar analiz edebilir |
| X-ışını tüpü | 50 W (50 kV, 1mA) mikro odaklı tungsten paladyum ışın tüpü (hedef malzeme isteğe bağlıdır) |
| Dedektör | Si-PIN geniş alan dedektörü |
| Kolimatör | φ0,5-φ5 isteğe bağlıdır. Çoklu standart isteğe bağlıdır. |
| Kamera | Yüksek çözünürlüklü CMOS renkli kamera, 5 megapiksel |
| Manuel örnek XY platformu | Hareket aralığı: 100 mm x 150 mm |
| Programlanabilir XY platformu | (İsteğe bağlı) |
| Z ekseni hareket aralığı | 150 mm |
| Örnek kutu boyutu | 564mm × 540mm × 150mm (U x G x Y) |
| Genel boyutlar | 664mm × 761mm × 757mm (U x G x Y) |
| ağırlık | 120 kg |
| Güç kaynağı | AC 220V±5V 50Hz (Yapılandırma bölgeye göre biraz değişiklik gösterir) |
| Anma gücü | 150W |
Truex 800 el tipi XRF metal analiz cihazı, ileri seviye XRF spektrometre teknolojisi ile donatılmış, saha koşullarında yüksek doğrulukta ve hızlı sonuçlar sunmak üzere geliştirilmiş profesyonel bir analiz cihazıdır. Gelişmiş XRF analiz altyapısı sayesinde, laboratuvar ortamına ihtiyaç duymadan güvenilir ve tekrarlanabilir öl
Truex 860 el tipi XRF metal analiz cihazı, ileri seviye XRF spektrometre teknolojisi ile donatılmış, saha koşullarında yüksek doğrulukta ve hızlı sonuçlar sunmak üzere geliştirilmiş profesyonel bir analiz cihazıdır. Gelişmiş XRF analiz altyapısı sayesinde, laboratuvar ortamına ihtiyaç duymadan güvenilir ve tekrarlanabilir öl
TrueX el tipi XRF metal analiz cihazı, üretim süreçlerinde metal analizi ve malzeme tanımlama operasyonlarını ileri seviyeye taşıyan gelişmiş XRF spektrometre teknolojisi ile geliştirilmiş profesyonel bir analiz cihazıdır. Hafif ve portatif tasarımı, yüksek hassasiyetli XRF ölçüm kabiliyeti ve hızlı analiz süresi sayesinde h
Truex 960 portatif XRF maden analiz cihazı, madencilik operasyonlarının tüm aşamalarında XRF spektrometre teknolojisinin hızını ve güvenilirliğini sahaya taşır. Temel arama ve geliştirme çalışmalarından üretim sırasında maden cevheri kalite kontrolüne, stok sahası yönetiminden çevresel izleme faaliyetlerine kadar taşınabilir XRF
El tipi alaşım analiz cihazı, lazer tabanlı uyarım teknolojisi ve ileri düzey spektral analiz yöntemleri ile entegre edilmiş, yüksek hassasiyet sunan profesyonel bir analiz cihazı ve spektrometre çözümüdür. Portatif ve ergonomik tasarımı sayesinde saha koşullarında etkin kullanım imkânı sağlayan bu analiz cihazı, hızlı ölçüm kabiliyeti,
TrueX COAT, LANScientific Co., LTD. tarafından geliştirilen, kaplama analizlerine özel olarak tasarlanmış yüksek performanslı bir XRF analiz cihazı ve spektrometre çözümüdür. Gelişmiş XRF teknolojisi ile donatılan bu analiz cihazı, kaplama kalınlığı ölçümü ve XRF element analizi süreçlerini tahribatsız, hızlı ve yükse
TrueX el tipi XRF toprak ağır metal analizörü, çevresel analiz ve saha yönetimi süreçlerinde hız, doğruluk ve kontrolü bir araya getiren ileri düzey bir XRF analiz cihazı ve spektrometre çözümüdür. Hafif ve portatif tasarımı, kullanıcı dostu tek tuşla kullanım özelliği ve saha koşullarına uyumlu yapısı ile XRF analizin
LIBS 3000 Online Lazerle Tahribatlı Kırılma Spektrometresi, gerçek zamanlı malzeme bileşimi izleme ve kontrolü için özel olarak tasarlanmış premium endüstriyel analiz cihazıdır.
ScopeX XRF Analiz Cihazı ile RoHS, REACH ve Halogen-Free Uygunluk Testleri ScopeX XRF analiz cihazı, endüstriyel üretim süreçlerinde çevresel uyumluluk ve ürün güvenliğini sağlamak üzere tasarlanmış yüksek performanslı bir XRF spektrometredir. Bu portatif ve hassas XRF cihazı, RoH
ScopeX XRF metal analiz cihazı, geniş doğrusal aralık, hızlı analiz, yüksek hassasiyet ve güvenilir tekrarlanabilirlik sunan, akıllı yazılım ve üst düzey donanım ile geliştirilmiş ileri bir XRF spektrometredir. Gelişmiş XRF analiz teknolojisi sayesinde kolay numune hazırlama imkânı sunar ve farklı boyut ve şekillerdeki numun
Taşınabilir XRF – Raman analiz cihazı, LANScientific tarafından kullanıcı ihtiyaçları göz önünde bulundurularak tasarlanmış entegre bir analiz çözümüdür. Cihaz, XRF (X-Ray Fluorescence) teknolojisi, Rama
TrueX 70 kV taşınabilir XRF metal analiz cihazı nadir toprak elementlerinin hızlı, doğru ve güvenilir şekilde tespiti için geliştirilmiş ileri teknolojiye sahip bir cihazdır. Taşınabilirlik, yüksek doğruluk ve akıllı analiz özelliklerini bir araya getirerek saha çalışmalarında ve yerinde te
PeDX Yağ, enerji endüstrisi için özel olarak geliştirilmiş taşınabilir bir XRF analiz cihazıdır. PeDX Yağ XRF cihazı, yağlama yağı, dizel, jet yakıtı, biyodizel, ham petrol ve diğer petrol ürünlerindeki kükürt ve ilgi
PeDX, kullanıcıların analiz ihtiyaçlarına yönelik geliştirilmiş taşınabilir bir X-ışını floresan (XRF) analiz cihazıdır. PeDX XRF cihazı, taşınabilirliği, hızlı analiz kapasitesi, yüksek stabilitesi ve üstün doğruluğu ile öne çıkar.
RA200, LANScientific tarafından geliştirilen taşınabilir bir Raman spektrometresidir. Uzaysal olarak eşleşmiş optik ve elektronik tasarım ile bilimle bütünleşmiş stokiyometri algoritmasını kullanarak kolay kullanım ve yüksek performanslı analiz sağlar.
TX3300 Toplam Yansımalı X-ışını Floresan Spektrometresi, XRF teknolojisi birikimiyle geliştirilmiş ve eser element analizi için özel olarak tasarlanmış taşınabilir bir
TX3000 tam yansımalı X-ışını floresan spektrometresi, yıllar süren XRF araştırmaları ve geliştirmeleri sonucunda element analizi ve eser element analizi için özel olarak tasarlanmış taşınabilir bir XRF cihazı
TX3300Cl, yüksek hassasiyetli taşınabilir bir XRF spektrometresidir. Cihaz, inorganik elementlerin çok elementli mikro/iz XRF analizini gerçekleştirmek için
TX3800 taşınabilir toplam yansımalı XRF spektrometresi, hassas XRF tespiti için özel olarak tasarlanmıştır. Son derece düşük arka plan gürültüsü altında yüksek hassasiyetli XRF analizleri sağlar. Sı
INSIGHT kaplama analizörü, mikro odaklı bir X-ışını tüpü kullanarak, X-ışını kaynağından gelen ışınların çoğunu toplayıp bir mikro ışın noktasına odaklar. Bu mikro nokta, numune üzerinde ışınlanarak
Elektronik endüstrisinde ürün kalitesinin güvenilirliği ve istikrarını sağlamak için en temel süreç, kaplama kalınlığının kontrolüdür. Kaplama kalınlığı, ürün kalitesinin en önemli güvence faktörlerinden biridir; bu nedenle
LIBS 5000 Online Lazerle Tahribatlı Kırılma Spektrometresi, özellikle sıvı bileşim tespiti için tasarlanmış akıllı bir analiz sistemidir. Çekirdek teknolojisi olarak Lazerle Tahribatlı Kırılma Spektroskopisi (LI
El tipi LIBS lazer karbon metal analiz cihazı, LIBS spektroskopisi ve gelişmiş spektral analiz yöntemlerini bir araya getiren yüksek hassasiyetli taşınabilir analiz cihazıdır. Hafif ve ergonomik tasarımı say