Copyright © 2025 Deneylab Analiz - Sistemleri Mümessillik ve Ticaret Limited Şirketi.. Tüm Hakları Saklıdır.

INSIGHT Elektronik Uygulama Kapsamları

INSIGHT Elektronik Uygulama Kapsamları

Elektronik endüstrisinde ürün kalitesinin güvenilirliği ve istikrarını sağlamak için en temel süreç, kaplama kalınlığının kontrolüdür. Kaplama kalınlığı, ürün kalitesinin en önemli güvence faktörlerinden biridir; bu nedenle kaplama kalınlığı kalite kontrolü kritik öneme sahiptir.

 

X-Işını Floresans (XRF) teknolojisi, kaplama kalınlığı ve bileşim ölçümünde yaygın olarak tercih edilen bir tekniktir. Tahribatsız, hızlı ve kolay XRF ölçümleri, elektronik sektöründe verimli kalite kontrol süreçleri sağlar.

 

INSIGHT XRF cihazı, kaplama analiz uygulamaları için doğru ve verimli XRF analiz yöntemleri sunar. Kullanımı kolay ve esnek yapılandırılabilen bu cihaz, ultra ince kaplamaların XRF tabanlı analizinde güçlüdür; hızlı, doğru ve tekrarlanabilir sonuçlar sağlar. PCB, yarı iletken ve diğer elektronik bileşenler üzerinde verimliliği artırmaya yardımcı olur ve spesifikasyonlara uyumu güvence altına alarak düşük performans riski ile hurda veya yeniden işleme kaynaklı maliyetleri önler.

Avantajlar

Çoklu kolimatör

 Çoklu kolimatörler isteğe bağlı olarak kullanılabilir veya çoklu kolimatör kombinasyonları yazılım tarafından otomatik olarak değiştirilir, böylece farklı boyutlardaki parçalarla esnek bir şekilde başa çıkılabilir.

Yukarı-Alt Tasarım

 Cihaz, süper büyük, düzensiz, küçük ve hatta sıvı numunelerin hızlı, doğru, kararlı ve etkili ölçümünü kolayca elde edebilen Yukarı-Alt tasarımını benimser.

Yüksek Yoğunluklu X-Ray Tüpü

INSIGHT, cihaza daha yüksek sayım oranı, daha küçük nokta ölçümü ve daha ince kaplama ölçümü getirebilen yüksek yoğunluklu kılcal optik sistemle donatılabilir, bu da cihazın analiz verimliliğinin iki katına çıkmasına yardımcı olur.

Son derece hassas dedektör

 Karmaşık kaplama yapıları için SDD serisi dedektörler, daha iyi çözünürlük, daha düşük arka plan gürültüsü (en yüksek S/N oranı) gibi XRF benzeri özelliklere sahip elementleri analiz etmeyi kolaylaştırır ve daha ince kaplamaları daha doğru bir şekilde ölçebilir.

Otomatik Odaklama

 Numuneler, numune kalınlığı veya boyutundan bağımsız olarak saniyeler içinde otomatik olarak odaklanır. Numuneler 80 mm'ye kadar mesafelerden ölçülebilir. Cihaz, girintili yüzeyleri olan parçaları veya farklı yüksekliklerdeki birden fazla numuneyi ölçmek için idealdir.

Programlanabilir otomatik yer değiştirme numune aşaması

Cihaz, otomatik ölçümün kolayca gerçekleştirilebildiği, numunelerin daha hızlı hazırlanıp ölçülebildiği, dolayısıyla analiz hacminin artırılabildiği otomatik bir platformla donatılmıştır.

Tek dokunuşla ölçüm

Cihaz, kullanımı kolay, sezgisel ve akıllı bir analiz yazılımıyla donatılmıştır. Herkes eğitim almadan numuneleri test edebilir. "Testi Başlat"a tıklamanız yeterli; test sonuçlarına saniyeler içinde ulaşabilirsiniz.

Büyük ölçüm odası

 Cihaz gövdesinin yuvalı tasarımı (C yuvası), ölçüm alanını genişletir ve numunenin yerleştirilmesini kolaylaştırır. Baskılı devre kartları gibi büyük ve düz nesnelerin yanı sıra karmaşık şekillere sahip büyük numuneleri de ölçebilir.

Üretkenliği artırın

 INSIGHT otomasyonu numuneleri daha hızlı ölçmenize yardımcı olarak veriminizi artırır.

Kullanım Alanları

Baskılı Devre Kartları Au/Ni/Cu/PCB;Sn/Cu/PCB;Au/NiP/Cu/PCB;Ag/Cu/PCB;Sn/Cu/PCB;SnPd/Cu/PCB;Au/Pd/NiP/Cu/PCB
Bağlantı Elemanı Kaplama Elektronik endüstrisinde bakır alaşımlı kontaklara uygulanan kalay, altın, gümüş, nikel ve paladyum kaplamalar korozyon direncini artırır ve iletimi iyileştirir.
Wafer Üretimi (Yarı İletken), çip üretiminde kullanılan silikon tabandır ve elektrolizle iletken metal kaplanır. Kaplama tabakasının düzgünlüğü ve kalınlığı, wafer kalitesi için kritik öneme sahiptir.
Kurşun çerçeve, yarı iletken paketinin ana yapısı olup iç yonga ve dış kabloları bağlar. Montaj performansı için yüzey işlemi gerekir; yaygın kaplamalar altın, gümüş, paladyum ve nikel’dir.

Ürün Parametreleri

 
Özellikleri Yukarıdan aşağıya ölçüm yapısı, XYZ ölçüm platformu, MUTI-FP çok katmanlı algoritma
Elemanın kapsamı Na(11)—Fm(100)
Katman sayısının analizi 5 katman (4 katman + alt tabaka) her katman 10 elementi analiz edebilir, kompozisyon analizi 25 elemente kadar analiz edebilir
X-ışını tüpü 50 W (50 kV, 1mA) mikro odaklı tungsten paladyum ışın tüpü (hedef malzeme isteğe bağlıdır)
Dedektör Yüksek hassasiyetli geniş alan SDD dedektörü, SDD 50mm2 geniş alan dedektörü, (isteğe bağlı)
Kolimatör Birden fazla kolimatör isteğe bağlıdır ve birden fazla kolimatör birleştirilebilir
Kamera Yüksek çözünürlüklü CMOS renkli kamera, 5 megapiksel
Manuel örnek XY platformu Hareket aralığı: 100 mm x 150 mm
Programlanabilir XY platformu (İsteğe bağlı)
Z ekseni hareket aralığı 150 mm
Örnek kutu boyutu 564mm × 540mm × 150mm (U x G x Y)
Genel boyutlar 664mm × 761mm × 757mm (U x G x Y)
ağırlık  120 kg
Güç kaynağı AC 220V±5V 50Hz (Yapılandırma bölgeye göre biraz değişiklik gösterir)
Anma gücü 150W

Kullanım Alanları

Fiyat Teklifi İste
Whatsapp İletişim